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半导体测试系统

M系列小型手动探针台

M系列小型手动探针台

M4、M6、M8

赛仪欧

产品概要 M系列探针台简易轻便,占有空间小且移动方便。在保证测试精度的前提下,又极具性价比,非常适合高校教学实验使用。如果测试器件的PAD点大于30μm,M系列则是其中的主选设备之一。该设备能胜任各种

订购热线:0755-21088076
  • 产品概述
  • 主要特点
  • 选型指南
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产品概要

M 系列探针台简易轻便,占有空间小且移动方便。在保证测试精度的前提下,又极具性价比,非常适合高校教 学实验使用。如果测试器件的PAD 点大于30μm,M 系列则是其中的主选设备之一。该设备能胜任各种DC 直 流,至67GHz 的RF 射频,MEMS 等测试应用。



应用方向

广泛应用于DC直流/(IV、CV、I-t、V-t),DC直流/低电流(100fA级)测试 ,1/f噪声测试 ,器件表征测试,RF射频等




> 全新升级的卡盘移动平台

封闭式移动平台设计,防尘,防误操作,结构美观; 移动平台采用THK精密丝杠传动+线性移动+无间隙回程差设计+卡盘锁紧功能,多方面提升卡盘移动精度


> 带有3段真空吸附控制的卡盘

采用中心真空吸附孔和3圈真空吸附环固定样品,卡盘每个真空通道均可独立控制。标准卡盘中心吸附孔为1mm直径,亦可根据客户要求定制。同时卡盘角度可360旋转,微旋转调节精度0.002°,方便调节待测样品位置


> POMater™ 自适应隔震底座

自适应减震底座设计,德国进口隔震材料增强弹性支撑,实现不同程度的刚性硬度和承载范围,并有效过滤环境中的震动源干扰,确保探针末端和样品的Pad稳定接触,提升测试的稳定性


产品结构: