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DPT1000A半导体功率器件动态参数测试系统

发布时间:2022-06-29

功率器件动态参数测试系统DPT1000A可以有效地解决高速SiC器件在动态开关过程中的特性表征难题,提高测试效率,实现几十项动态参数的自动化测试。

DPT1000A系统组成

DPT1000A系统由功率器件双脉冲测试驱动板高压防护罩芯片温控系统泰克高分辨率示波器光隔离探头双脉冲信号源高压电源自动化测试软件组成。以交钥匙形式交付客户,可以通过上位机软件配置测试设备和测试项目,获取测试结果并生成数据报告。系统具备极高的测试灵活性,可以根据需求定制驱动电路板设计,更改栅极电阻,负载电感等关键器件参数。

在保证安全的前提下,对功率器件的动态参数进行全面精准的测试评估。同时使用了泰克公司的新五系高分辨率示波器和专门用于高压差分信号测试的光隔离探头,为三代半导体器件动态特性表征带来更高带宽和更高测试精度。泰克新五系示波器可以最高支持8通道同时测量,对于半桥结构双脉冲测试电路,可以同时对上下管信号进行同步测试。


此外,该系统中包含泰克独有的光隔离探头TIVP,它提供了极高的共模抑制比,可以在上管测试中提供更准确的波形数据。由于上管在工作状态中浮地电压极高,与上管相关的电信号测量在传统测试中通常非常困难。尤其像幅度较低的栅压信号,或者通过电流传感器读取的上管工作电流,往往叠加在几百伏到上千伏的高压信号上,使用高压差分探头无法对这类信号进行准确的测量。TIVP光隔离探头彻底解决了这一问题,在提供高达1GHz测试带宽的同时,保持80dB~120dB共模抑制比,第一次真实还原出与上管相关的电信号波形。


针对系统中高速电流的测试,使用高精度电流传感器,得到更高的电流测试带宽和更准确的电流波形。同时系统还提供了动态导通电阻测试功能,可以在高速开关状态下对器件的动态导通电阻进行评估,帮助客户更准确的了解器件动态特性。

保证测试过程中仪器设备安全也是DPT1000A在设计过程中重要考虑到的因素。驱动板与示波器探头被独立安装在独立的安全防护罩内,从物理上进行隔离,以确保高压大电流工作状态下偶发故障不会对示波器、信号源和上位机电脑等设备造成损害。另外,由于采用驱动板子板与母板垂直安装的设计方式,功率器件与示波器探头可以分布在垂直安置的驱动板子板两侧。当测试过程中即使发生功率器件炸管现象时,不会将探头等设备损坏,确保客户财产损失降到最低。

定制化需求

DPT1000A测试系统的驱动电路开发、硬件集成和测试软件研发工作全部在国内完成,客户可以在当前基础上对系统提出定制化需求,满足更多种类的功率器件测试需求。同时泰克公司也为客户提供本地化技术支持与服务,以最快的响应速度确保您的测试顺利完成。